15名留美中国学生涉嫌考试欺诈 恐获刑20年罚款25万美元

作者:信莲 来源:中国日报网
2015-05-29 13:35:34

中国日报网5月29日电(信莲) 综合外媒报道,15名居住在美国的中国学生被指控涉嫌在包括SAT、TOEFL和GRE的考试中冒名顶替欺诈。

美国联邦陪审团已起诉了这15名中国学生,并称他们在美国知名大学和研究生院的考试中涉嫌使用伪造的中国护照冒名顶替,以蒙混监考测试管理员,取得成绩后再获取美国大学录取通知。

被告的起诉罪名包括串谋、欺诈以及伪造护照以骗取美国高校录取。涉案学生找人代考,利用伪造的护照隐藏真实身份,之后用欺诈得来的分数骗取高校录取通知和F1签证。在被指控的嫌犯中,有6人被明确指出曾预先支付6000美元(约为人民币37000元)找人替考。另外五名被控嫌犯则是替考者。其中一位24岁被告童寒(音译)曾飞到加州为一人替考STA。另外四名被告则是涉嫌帮助制造假护照而被捕。

自2011年至今,大部分的考试欺诈案主要发生在美国宾夕法尼亚州西部,该地区的检察官大卫·希克顿说,颁发录取通知书给被告的学校都是美国最好的本科和研究生教育机构。希克顿没有透露是美国哪几所高校,但他表示,位于新泽西州普林斯顿的ETS(教育考试服务中心)和纽约大学委员会都会配合此次调查。

负责此案件的费城国土安全调查局特工约翰·凯勒翰John Kelleghan)指出这些欺诈案中受益的学生用欺骗手段试图进入美国大学,不仅是利用欺骗的方式希望进入大学,也是一种对美国移民系统的欺骗。

据悉,24岁的嫌疑人赵思远(音译)28日在波士顿被捕,来自匹兹堡的童寒(音译)及其他10人将被要求出庭,还有其他三人目前在中国。如果罪名成立,这些被告将面临最高20年的监禁,罚款25万美元(约为人民币155万元),共谋罪则最高附加5年刑期。

(编辑:程尔凡)